Hohe Geradheit und geringe Winkelfehler bei der Kalibrierung von Objektiven und Sensoren

Eine exakte Prüfung und Kalibrierung von optischen Komponenten ist die Grundvoraussetzung, um den steigenden Anforderungen durch Miniaturisierung und steigenden Stückzahlen gerecht zu werden. Aufgrund der geringen Winkelfehler und der hohen Geradheit eignen sich OWIS Positioniersysteme ideal für Messgeräte und Prüfstände zur Vermessung und Kalibrierung von Objektiven und Sensoren.

OWIS Engineering für die Bildverarbeitung und Sensorik:

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Positioniersysteme für optische Messgeräte

System mit x-y-Positionierung. Anwendungsspezifische Erweiterung um z-Achse mit Sensor, Hubtisch, Goniometer oder Drehtisch möglich.

OPTISCHE MESSGERÄTE

Positioniersysteme für Prüfstände

System mit z-Positionierung bei großem Arbeitsbereich. Anwendungsspezifische Erweiterungen um x-y-Positionierung oder Drehtisch möglich.

PRÜFSTÄNDE

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POSITIONIERSYSTEME

Mit OWIS Engineering realisieren wir viele weitere Positioniersysteme, Portal-Lösungen oder Mehrachssysteme. Vom individuellen Design bis zur termingerechten Lieferung. Welchen Aufbau planen Sie?

POSITIONIERSYSTEME

CUSTOMIZING UND OEM-LÖSUNGEN

Ist Ihre Applikation anhand unseres Systembaukastens nicht darstellbar? Sie haben spezielle Anforderungen – zum Beispiel an die Baugröße oder an eine Apertur?

Wir unterstützen Sie – mit Know-how in der Entwicklung und Konstruktion und unserer jahrzehnte-langen Erfahrung in der Herstellung komplexer Systeme. Individuell designt und gefertigt – alles aus einer Hand!

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