Schülerinnen für Technik begeistern
Beim diesjährigen Girls' Day durften wir fünf Schülerinnen begrüßen und Ihnen Einblicke in technische Berufe gewähren.
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OWIS ist auf der Zielgerade2030
Photovoltaik, Wärmerückgewinnung, Ladestationen, Elektromobiltät, Jobbike… Die Weichen haben wir längst gestellt. Seit Jahren investieren wir an unserem Unternehmenssitz in Staufen in erneuerbare Energien und mehr Energieeffizienz. Jetzt wollen wir es genau wissen!
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OWIS auf Mission
Sensationell, was sich in kürzester Zeit realisieren lässt. Als wir uns überlegten, wie wir unser neuestes Highlight, ein hochpräzises Positionssystem zur Vermessung von Oberflächenstrukturen großer Bauteile präsentieren, dachten wir nicht daran, dass wir eine Woche später mitten in der Nacht einen Film darüber drehen werden. Jetzt ist der Film fertig und übertrifft unsere Erwartungen. Überzeugen Sie sich selbst!
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...und Wegweisendes erfahren:
Kommende Veranstaltungen
SPIE. Photonics West
20. - 22. Januar 2026
San Francisco, Kalifornien, (USA)
Vertreten durch: Rüdiger Ruh
Standnummer im Deutschen Pavillon: 4205-59
Applikationsberichte
![[Translate to Deutsch:] Optical 3D measuring stand developed by Fraunhofer IPM](/fileadmin/user_upload/Bilder/Application_Reports/OWIS_x_IPM_Holographic_3D_meassuerement/optical_3D_measuring_stand.jpg)
OWIS Positioniersysteme in der digital- holographischen 3D-Messtechnik
Die digital-holographische 3D-Messtechnik ermöglicht die schnelle und gleichzeitig hochpräzise Messung der Bauteiloberfläche. Zur Positionierung der Bauteile verwendet das Fraunhofer-Institut für Physikalische Messtechnik IPM zwei direktangetriebene Linearachsen LINPOS von OWIS.
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Großflächige 3D-Oberflächenprüfung mit Weißlichtinterferometrie
Für die Gesellschaft für Bild- und Signalverarbeitung (GBS) mbH haben wir ein kundenspezifisches Portalsystem entwickelt, das auf einem Arbeitsraum von 1.250 mm x 550 mm x 45 mm sowohl ein präzises Anfahren einzelner Messpunkte als auch das Scannen der gesamten Oberfläche ermöglicht.
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Aufbau zur Bestimmung atomarer Abstände
An der TU Berlin gelang es der Arbeitsgruppe „Analytische Röntgenphysik“ von Prof. Dr. Birgit Kanngießer eine Methode zu entwickeln, die das Licht einer Röntgenröhre effizient nutzt und mit geringem Brillanz-Verlust auf einen Detektor leitet. So lassen sich Messungen zur Bestimmung atomarer Abstände auch in kleineren Laboren durchführen. OWIS Positioniersysteme vereinfachen die Bedienung dabei entscheidend.
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Festphasen-Fluorospektrometer
Die Fluoreszenzspektroskopie nutzt Fluoreszenz-Phänomene zur Analyse von Substanzen. Sie unterscheidet sich von einigen anderen Spektroskopien, indem sie die Emission anstatt der Absorption der fluoreszierenden Strahlung misst. Das Forschungsinstitut „wfk – Cleaning Technology Institute e.V.“ in Krefeld untersucht beispielsweise Anschmutzungen auf Stoffoberflächen, um fluoreszenzmarkierte Bakterien zu erfassen. Dieses Verfahren wird zur Evaluation einer erfolgreichen Hygiene bei Waschverfahren verwendet.
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Linienlaser Alignment
Ein perfekt eingestellter Linienlaser soll eine homogene Linie abbilden. Dies stellt die Laser-Hersteller vor verschiedene Herausforderungen, wie beispielsweise die Geradheit der Linie, eine homogene Intensitätsverteilung sowie die Orientierung der Laserlinie in Bezug auf das Gehäuse. Um das Ziel einer homogenen Linie zu erreichen, muss eine anamorphe refraktive Optik präzise zu einem kollimierten Strahl aus einem Lasermodul ausgerichtet werden.
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Das FXE Instrument
Femtosekundenschnelle Spektroskopie mit Röntgenstrahlung ist eine Aufgabe des European XFEL, eines 3,4 km langen Röntgenlasers in der Metropolregion Hamburg. Die FXE-Gruppe (Femtosecond X-Ray Experiments) beschäftigt sich u.a. mit zeitaufgelösten Untersuchungen der Dynamik von Festkörpern und Flüssigkeiten. Hierzu wurde ein Röntgen-Emissions-Spektrometer installiert, welches 16 einzelne Beugungskristalle miteinander vereint.
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Probenvermessung
In unserem Beispiel aus der Messtechnik und Analytik sollen hunderte Proben so schnell wie möglich analysiert werden. Bei dieser Anwendung ist nicht die laterale Verfahrgeschwindigkeit sondern die Prozesszeit der Hauptkostenpunkt. Durch die Summe der vertikalen Toleranzen aller Komponenten bedarf es einer individuellen Nachfokussierung der Kamera. Um diese zeitintensive Nachfokussierung zu vermeiden, werden unsere Positioniereinheiten auf maximale Ebenheit gefertigt, montiert und vermessen. Durch diese hohe Präzision von nur wenigen Mikrometern kann in vielen Applikationen auf die Nachfokussierung gänzlich verzichtet werden.
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