Aktuelles und Veranstaltungen

Dr. Dominik Zimmermann verstärkt die Geschäftsführung von OWIS

Wir haben bei OWIS noch viel vor. Deshalb verstärken wir unsere Geschäftsführung: Seit dem 1. Oktober 2026 führt Dr. Dominik Zimmermann unser Unternehmen gemeinsam mit Rüdiger Ruh, unserem geschäftsführenden Gesellschafter. Dominik Zimmermann verantwortet Entwicklung und Konstruktion, Marketing und Vertrieb. Rüdiger Ruh verantwortet die Organisationsentwicklung sowie Planung und Steuerung von Fertigung und Montage. So schaffen wir klare Verantwortlichkeiten für unser wachsendes OEM- und Projektgeschäft und die damit verbundenen Anforderungen an unsere internen Strukturen und Abläufe.

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Sommerfest 2026

Ein lauer Sommerabend, gutes Essen und viele vertraute Gesichter: Beim Sommerfest 2026 kamen Mitarbeitende, ihre Familien und unsere Ruheständler wieder zusammen. In entspannter Atmosphäre wurde gemeinsam gefeiert und ein besonderes Jubiläum durfte natürlich auch nicht fehlen.

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Unser zweiter Klimawin-Bericht ist da!

Nachhaltigkeit wächst mit jeder Entscheidung, jeder Maßnahme und jedem Schritt, den wir konsequent gehen. Unser zweiter Klimawin-Bericht zeigt, was wir erreicht haben, woran wir arbeiten und warum Transparenz für uns genauso wichtig ist wie Fortschritt.

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Kommende Veranstaltungen

Precision Fair

18. -19. 2026 November
Brabant hall in Hertogenbosch - Niederlande

Vertreten durch:
Te Lintelo Systems BV

Applikationsberichte

[Translate to Deutsch:] Optical 3D measuring stand developed by Fraunhofer IPM

OWIS Positioniersysteme in der digital- holographischen 3D-Messtechnik

Die digital-holographische 3D-Messtechnik ermöglicht die schnelle und gleichzeitig hochpräzise Messung der Bauteiloberfläche. Zur Positionierung der Bauteile verwendet das Fraunhofer-Institut für Physikalische Messtechnik IPM zwei direktangetriebene Linearachsen LINPOS von OWIS.

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Großflächige 3D-Oberflächenprüfung mit Weißlichtinterferometrie

Für die Gesellschaft für Bild- und Signalverarbeitung (GBS) mbH haben wir ein kundenspezifisches Portalsystem entwickelt, das auf einem Arbeitsraum von 1.250 mm x 550 mm x 45 mm sowohl ein präzises Anfahren einzelner Messpunkte als auch das Scannen der gesamten Oberfläche ermöglicht.

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Aufbau zur Bestimmung atomarer Abstände

An der TU Berlin gelang es der Arbeitsgruppe „Analytische Röntgenphysik“ von Prof. Dr. Birgit Kanngießer eine Methode zu entwickeln, die das Licht einer Röntgenröhre effizient nutzt und mit geringem Brillanz-Verlust auf einen Detektor leitet. So lassen sich Messungen zur Bestimmung atomarer Abstände auch in kleineren Laboren durchführen. OWIS Positioniersysteme vereinfachen die Bedienung dabei entscheidend.

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Festphasen-Fluorospektrometer

Die Fluoreszenzspektroskopie nutzt Fluoreszenz-Phänomene zur Analyse von Substanzen. Sie unterscheidet sich von einigen anderen Spektroskopien, indem sie die Emission anstatt der Absorption der fluoreszierenden Strahlung misst. Das Forschungsinstitut „wfk – Cleaning Technology Institute e.V.“ in Krefeld untersucht beispielsweise Anschmutzungen auf Stoffoberflächen, um fluoreszenzmarkierte Bakterien zu erfassen. Dieses Verfahren wird zur Evaluation einer erfolgreichen Hygiene bei Waschverfahren verwendet.

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Linienlaser Alignment

Ein perfekt eingestellter Linienlaser soll eine homogene Linie abbilden. Dies stellt die Laser-Hersteller vor verschiedene Herausforderungen, wie beispielsweise die Geradheit der Linie, eine homogene Intensitätsverteilung sowie die Orientierung der Laserlinie in Bezug auf das Gehäuse. Um das Ziel einer homogenen Linie zu erreichen, muss eine anamorphe refraktive Optik präzise zu einem kollimierten Strahl aus einem Lasermodul ausgerichtet werden.

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FXE Instrument, Stellantriebe mit nicht drehender Spindel M 19

Das FXE Instrument

Femtosekundenschnelle Spektroskopie mit Röntgenstrahlung ist eine Aufgabe des European XFEL, eines 3,4 km langen Röntgenlasers in der Metropolregion Hamburg. Die FXE-Gruppe (Femtosecond X-Ray Experiments) beschäftigt sich u.a. mit zeitaufgelösten Untersuchungen der Dynamik von Festkörpern und Flüssigkeiten. Hierzu wurde ein Röntgen-Emissions-Spektrometer installiert, welches 16 einzelne Beugungskristalle miteinander vereint.

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Probenvermessung

In unserem Beispiel aus der Messtechnik und Analytik sollen hunderte Proben so schnell wie möglich analysiert werden. Bei dieser Anwendung ist nicht die laterale Verfahrgeschwindigkeit sondern die Prozesszeit der Hauptkostenpunkt. Durch die Summe der vertikalen Toleranzen aller Komponenten bedarf es einer individuellen Nachfokussierung der Kamera. Um diese zeitintensive Nachfokussierung zu vermeiden, werden unsere Positioniereinheiten auf maximale Ebenheit gefertigt, montiert und vermessen. Durch diese hohe Präzision von nur wenigen Mikrometern kann in vielen Applikationen auf die Nachfokussierung gänzlich verzichtet werden.

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