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Sommerfest 2025 – Ein Fest für die ganze Familie! Gute Stimmung, köstliches Essen, eisgekühlte Drinks und jede Menge Spaß für Groß und Klein – ein unvergesslicher Tag für alle, die unseren gemeinsamen Erfolg möglich machen!
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Was immer Ihr X ist – mit GANTX wird daraus die passende Lösung. Es verbindet überkopfgeführte Präzision mit modularer Technik und hoher Dynamik. Ob große Flächen, empfindliche Objekte oder anspruchsvolle Bearbeitung: GANTX passt sich exakt an Ihre Anwendung an – mit individuell wählbaren Stellwegen, hoher Wiederholgenauigkeit und reibungsloser Integration in bestehende Systeme. Finden Sie heraus, wie aus X Fit wird – mit 100 % OWIS.
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Technik zum Anfassen, Begeisterung garantiert: Beim Girls’ Day 2025 durften fünf Schülerinnen OWIS hautnah erleben. Vom Laserspiel über CNC-Maschinen bis zur eigenen gravierten Pfeife – der Tag bot Einblicke in technische Berufe, die Spaß machen und neugierig auf mehr machen. Danke an alle Beteiligten – wir freuen uns schon jetzt auf den nächsten Girls’ Day!
Zum Beitrag![[Translate to Deutsch:] Optical 3D measuring stand developed by Fraunhofer IPM](/fileadmin/user_upload/Bilder/Application_Reports/OWIS_x_IPM_Holographic_3D_meassuerement/optical_3D_measuring_stand.jpg)
Die digital-holographische 3D-Messtechnik ermöglicht die schnelle und gleichzeitig hochpräzise Messung der Bauteiloberfläche. Zur Positionierung der Bauteile verwendet das Fraunhofer-Institut für Physikalische Messtechnik IPM zwei direktangetriebene Linearachsen LINPOS von OWIS.
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Für die Gesellschaft für Bild- und Signalverarbeitung (GBS) mbH haben wir ein kundenspezifisches Portalsystem entwickelt, das auf einem Arbeitsraum von 1.250 mm x 550 mm x 45 mm sowohl ein präzises Anfahren einzelner Messpunkte als auch das Scannen der gesamten Oberfläche ermöglicht.
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An der TU Berlin gelang es der Arbeitsgruppe „Analytische Röntgenphysik“ von Prof. Dr. Birgit Kanngießer eine Methode zu entwickeln, die das Licht einer Röntgenröhre effizient nutzt und mit geringem Brillanz-Verlust auf einen Detektor leitet. So lassen sich Messungen zur Bestimmung atomarer Abstände auch in kleineren Laboren durchführen. OWIS Positioniersysteme vereinfachen die Bedienung dabei entscheidend.
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Die Fluoreszenzspektroskopie nutzt Fluoreszenz-Phänomene zur Analyse von Substanzen. Sie unterscheidet sich von einigen anderen Spektroskopien, indem sie die Emission anstatt der Absorption der fluoreszierenden Strahlung misst. Das Forschungsinstitut „wfk – Cleaning Technology Institute e.V.“ in Krefeld untersucht beispielsweise Anschmutzungen auf Stoffoberflächen, um fluoreszenzmarkierte Bakterien zu erfassen. Dieses Verfahren wird zur Evaluation einer erfolgreichen Hygiene bei Waschverfahren verwendet.
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Ein perfekt eingestellter Linienlaser soll eine homogene Linie abbilden. Dies stellt die Laser-Hersteller vor verschiedene Herausforderungen, wie beispielsweise die Geradheit der Linie, eine homogene Intensitätsverteilung sowie die Orientierung der Laserlinie in Bezug auf das Gehäuse. Um das Ziel einer homogenen Linie zu erreichen, muss eine anamorphe refraktive Optik präzise zu einem kollimierten Strahl aus einem Lasermodul ausgerichtet werden.
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Femtosekundenschnelle Spektroskopie mit Röntgenstrahlung ist eine Aufgabe des European XFEL, eines 3,4 km langen Röntgenlasers in der Metropolregion Hamburg. Die FXE-Gruppe (Femtosecond X-Ray Experiments) beschäftigt sich u.a. mit zeitaufgelösten Untersuchungen der Dynamik von Festkörpern und Flüssigkeiten. Hierzu wurde ein Röntgen-Emissions-Spektrometer installiert, welches 16 einzelne Beugungskristalle miteinander vereint.
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In unserem Beispiel aus der Messtechnik und Analytik sollen hunderte Proben so schnell wie möglich analysiert werden. Bei dieser Anwendung ist nicht die laterale Verfahrgeschwindigkeit sondern die Prozesszeit der Hauptkostenpunkt. Durch die Summe der vertikalen Toleranzen aller Komponenten bedarf es einer individuellen Nachfokussierung der Kamera. Um diese zeitintensive Nachfokussierung zu vermeiden, werden unsere Positioniereinheiten auf maximale Ebenheit gefertigt, montiert und vermessen. Durch diese hohe Präzision von nur wenigen Mikrometern kann in vielen Applikationen auf die Nachfokussierung gänzlich verzichtet werden.
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